로그인
회원가입
견적문의
장바구니
0
회사소개
쇼핑몰
PR Series AFM Probe
Contact
Non-contact
High Resolution
Life Science
Electrical Measurement
Non-contact
Standard
High Resolution
Visualized Tip
High Aspect Ratio
Long Scanning
High Speed Scanning
High sensitivity in UHV
Force Modulation
Standard
High Resolution
Visualized Tip
High sensitivity in UHV
Long Scanning
Contact
Silicon 재질
Silicon Nitride 재질
Quartz 재질
Visualized Tip
Long Scanning
Life Science
Contact
Non-contact
Visualized Tip
Contact
Multi
Non-contact
Conductive Probe
Pt 코팅
PtIr 코팅
PtSi 코팅
Au 코팅
Solid Metal
Conductive Diamond 코팅
Magnetic
Low Momentum
Medium Momentum
Low Coercivity
High Resolution
Super Sharp
Spike Tip
Indent & Litho
DLC 코팅
Diamond 코팅
High Aspect Ratio
Ratio 5:1
Ratio 10:1
Silicon Nitride
Rectagular
Triangular
Tipless & Array
Tipless
Tipless Array
Ultra High Freq.
2MHz 미만
2MHz 이상
ScanAsyst® PeakForce™
Single Cantilever
Multi Cantilever
Functionalized Probe
Chemical modified
Special Probe
All In One
SNOM
SThM
Plateau Probe
Sphere Probe
Self Sensing
TERS(IR&RAMAN)
SPM Accessories
Standard Sample
Mica
Metal Disc
Carbon Tape
HOPG
기타 실험용품
템 그리드
나노소재
웨이퍼(기판) & 타겟
인덴터 팁
멤브레인 센서
프로브스테이셥 팁
측정 모드별 프로브
AFM/SPM Mode
중고 연구장비
연구장비 및 기자재
PR Series AFM Probe
Contact
Non-contact
High Resolution
Life Science
Electrical Measurement
Non-contact
Standard
High Resolution
Visualized Tip
High Aspect Ratio
Long Scanning
High Speed Scanning
High sensitivity in UHV
Force Modulation
Standard
High Resolution
Visualized Tip
High sensitivity in UHV
Long Scanning
Contact
Silicon 재질
Silicon Nitride 재질
Quartz 재질
Visualized Tip
Long Scanning
Life Science
Contact
Non-contact
Visualized Tip
Contact
Multi
Non-contact
Conductive Probe
Pt 코팅
PtIr 코팅
PtSi 코팅
Au 코팅
Solid Metal
Conductive Diamond 코팅
Magnetic
Low Momentum
Medium Momentum
Low Coercivity
High Resolution
Super Sharp
Spike Tip
Indent & Litho
DLC 코팅
Diamond 코팅
High Aspect Ratio
Ratio 5:1
Ratio 10:1
Silicon Nitride
Rectagular
Triangular
Tipless & Array
Tipless
Tipless Array
Ultra High Freq.
2MHz 미만
2MHz 이상
ScanAsyst® PeakForce™
Single Cantilever
Multi Cantilever
Functionalized Probe
Chemical modified
Special Probe
All In One
SNOM
SThM
Plateau Probe
Sphere Probe
Self Sensing
TERS(IR&RAMAN)
SPM Accessories
Standard Sample
Mica
Metal Disc
Carbon Tape
HOPG
기타 실험용품
템 그리드
나노소재
웨이퍼(기판) & 타겟
인덴터 팁
멤브레인 센서
프로브스테이셥 팁
측정 모드별 프로브
AFM/SPM Mode
중고 연구장비
연구장비 및 기자재
History
찾아 본
상품이
없습니다.
마이페이지
비회원주문배송
TOP ▲
무엇을 도와드릴까요?
고객님께서 궁금하신 사항을
QnA를 통해 빠르고 정확하게 답변 드리겠습니다.
보다 정확한 문의는 회사로 연락주시면
친천하게 상담 도와드리겠습니다.
070-7836-5319
상담시간 :
09:00 ~ 18:00
주말 및 공휴일은 휴무입니다.
Email : probes.ykkim@gmail.com
대표메일 :
probes.ykkim@gmail.com
팩스번호 :
02-6280-5319
1:1온라인문의
Quick Menu
클릭한번으로 쉽고 빠르게
나의정보수정
1:1온라인문의
자주묻는질문
회사소개
이용안내
비회원주문배송
공지사항
견적문의
상품문의
자주묻는 질문 TOP 5
Q
회원으로 가입해야만 주문이 가능한가요?
공지사항
이벤트
[공지사항] AFM 측정 자료실 오픈
2021-08-06
창립 10주년 감사 이벤트
2021-02-05
[AFM Analysis] Membran...
2021-11-09~2021-11-09
[AFM Analysis] Fiber 2
2021-08-06~2021-08-06
[AFM Analysis] Fiber 1
2021-08-06~2021-08-06
[AFM Analysis] Nano St...
2021-08-06~2021-08-06
[AFM Analysis] Polymer...
2021-08-06~2021-08-06