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AFM/SPM PROBE
(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)
Product Description | |||
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- 초고해상도 표면형상측정 프로브 - Non-Contact / True Non-Contact / Tapping 모드용 - 실리콘 팁 첨단에 싱글 카본 스파이크 팁 형성 - 캔틸레버 팁면과 반사면에 Au 코팅후 팁 끝단에 DLC (Diamond Like Carbon) 재질 Spike tip - 프로브 칩에 Groove가 있어 Alignment Chip과 함께 사용가능 - 장비 제작사별 마운팅 옵션 선택가능
- 사용가능 AFM/SPM 장비: AFMWorkShop A.P.E.Research Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI Hitachi / Seiko Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI NanoFocus NanoInk Oxford / Asylum Park Systems / PSIA Probes 등. 모든 상용화 장비
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Coating Description | |||
- Au (골드) 70nm 두께 팁면, 반사면 코팅 후, 팁면 DLC Spike |
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AFM Tip | |||
Shape | Supersharp | ||
Height | 17um (15-19um) | ||
Setback | 15um (10-20um) | ||
Radius | < 1nm | ||
Half Cone Angle | 20°-25° front view, 25°-30° from side, 10° at the apex | ||
AFM Cantilever | |||
Shape | Beam | ||
Length | 125um (115-135um) | ||
Width | 30um (25-35um) | ||
Thickness | 4um (3-5um) | ||
Force Constant | 40N/m (20-75N/m) | ||
Resonance Frequency | 300kHz (200-400kHz) | ||