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AFM/SPM PROBE
(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)
Product Description | |||
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- 가장 일반적인 전기적 특성평가용 프로브 - EFM / C-AFM / SSPM / SKPM / SSRM / PFM / Lift 모드 측정 - Contact과 Soft Non-Contact 구동 가능한 (75kHz / 3N/m) 사양 - 캔틸레버 팁면과 반사면에 Pt 코팅 - 프로브 칩에 Groove가 있어 Alignment Chip과 함께 사용가능 - 장비 제작사별 마운팅 옵션 선택가능
- 사용가능 AFM/SPM 장비: AFMWorkShop A.P.E.Research Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI Em4sys Hitachi / Seiko Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI NanoFocus NanoInk Oxford / Asylum Park Systems / PSIA Probes 등. 모든 상용화 장비
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Coating Description | |||
- Pt (플레티늄) 30nm 두께 팁면, 반사면 전도성 코팅 |
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AFM Tip | |||
Shape | Rotated | ||
Height | 15um (12-18um) | ||
Radius | < 30nm | ||
Full Cone Angle | 40° | ||
AFM Cantilever | |||
Shape | Beam | ||
Length | 225um | ||
Width | 27.5um | ||
Thickness | 3um | ||
Force Constant | 2.8N/m (1.2-5.5N/m) | ||
Resonance Frequency | 75kHz (60-90kHz) | ||
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Mounting Substrate | |||
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