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AFM/SPM PROBE
PR Series Combo Pack for Topography
(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)
Product Description | ||||
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- 가장 일반적인 표면형상 측정 모드에 사용되는 Standard 프로브 탐침을 콤보로 구성 : 구성 1팩 12개 * PR-C13 Contact mode 3개 * PR-T190 Non-Contact mode Long Cantilever 3개 * PR-T300 Non-Contact mode Short Cantilever 3개 * PR-L300 Non-Contact mode Visullized Long Tip 3개 - 사용가능 AFM/SPM 장비: AFMWorkShop A.P.E.Research Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI Em4sys Hitachi / Seiko Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI NanoFocus NanoInk Oxford / Asylum Park Systems / PSIA Probes 등. 모든 상용화 장비
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Coating Description | ||||
- Al (알루미늄) 30nm 두께 반사면 코팅 |
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AFM Cantilever | ||||
Model | PR-C13 | PR-T190 | PR-T300 | PR-L300 |
Shape | Beam | Beam | Beam | Beam |
Length | 450um (440-460um) | 225um (215-235um) | 125um (115-135um) | 115um (100-130um) |
Width | 50um (45-55um) | 38um (33-43um) | 30um (25-35um) | 40um (35-45um) |
Thickness | 2um (1-3um) | 7um (6-8um) | 4um (3-5um) | 3.3um (2-4um) |
Force Constant | 0.2N/m (0.07-0.4N/m) | 48N/m (28-75N/m) | 40N/m (20-75N/m) | 40N/m (27-55N/m) |
Resonance Frequency | 13kHz (9-17kHz) | 190kHz (160-220kHz) | 300kHz (200-400kHz) | 300kHz (200-350kHz) |