메뉴전체보기
메뉴전체보기 닫기
좌측배너
History
찾아 본
상품이
없습니다.

Photo emission Spectroscopy System
페이스북 트위터 이메일
상품평점(총 0건) 0 상품평 더보기
Photo emission Spectroscopy System
APS01/APS02/APS03/APS04
  • 판매가격
    0
  • 적립금
    0
  • 배송정보
    배송비 5,000원 (100,000원 이상 무료배송)
  • 구매수량
총 결제금액
(부가세포함)
0
이 상품을 장바구니에 담았습니다.
지금 장바구니를 확인하시겠습니까?


Ambient-pressure Photoemission Spectroscopy Systems

(대기압 광전자 방출 측정 시스템)



 Description

The Ambient-pressure Photoemission Spectroscopy (APS) systems are one of KP Technology Ltd’s most recent additions to our large surface analysis range. Domestic and international patents are held for these instruments. APS measures the absolute work function (Φ) of a material by photoemission in ambient conditions, no vacuum is required. The excitation range of APS is 3.4 eV to over 7.0 eV, meaning that APS is capable of measuring the absolute work function of metals and the ionization potential of semiconductors alongside measurement of the surface Fermi level with the Kelvin probe.


If an SPV and SPS source is added to the APS system, the full bands of semiconductors can be measured in one complete desktop system; no other product in the world can do this.

           
 Features      Applications  
• Work function measurement by photoemission in air • Organic and non-organic semiconductors
• Density of states measurements • Metals and metal alloys 
• 3.4 eV to 7.0 eV energy range • Thin Films and surface oxides 
• Measurement of all semiconductor bands • Corrosion and nanotechnology
• Contact potential difference by Kelvin probe • Solar cells and organic photovoltaics 
   
 Measurement Principle  

When light is incident on a material such as a metal or a semiconductor, the photons may have enough energy to liberate electrons from the surface, a process known as the Photoelectric Effect.

The energy required for electrons to escape the material is termed the work function. By varying the energy of the incoming light, the absolute work function can be established.


Based on Fowler’s analysis of photoemission, the square root (cube root for semiconductors) of the photoelectron yield is plotted on a graph versus the incident photon energy (image right). The work function of the material under analysis is where this straight line extrapolates to zero.

Each metal was measured with the photoemission mode and Kelvin probe mode of an APS02 system.  The contact potential difference (CPD) was measured with the Kelvin probe and the work function was measured by the ambient pressure photoemission mode.  When work function is plotted against CPD, a straight line is formed.  A line is drawn at 0 V CPD  to the line and when traced down reveals the absolute work function of the tip.
   
  Density of States  
The properties of many materials are governed by the Density of States (DOS) near the Fermi level. The Ambient-pressure Photoemission system is capable of probing the DOS by differentiating the detected photoelectron yield with respect to the incident photon energy. The DOS measurement can thus be compared to molecular orbital calculations for the material under investigation. DOS data collected with the APS in air is shown to the right for copper. The data for all measured samples is consistent with literature.
 
 System Overview
 
 System Specifications APS01 APS02 APS03 APS04
 Kelvin probe 3-axis scanning   V V V
 Surface Photovoltage     V V
 Surface Photovoltage Spectroscopy       V
 Tip material / diameter 2 mm gold tip 
 CPD resolution 1-3 meV
 Height control (Auto) 25 mm automatic
 Kelvin probe mode and PE mode  CPD and photoemission measurements
 CPD measurement time  CPD measurements in
 PE resolution  Full photoemission measurement 
 WF measurement time  PE measurement in
 DOS measurements  Full access to DOS information
 Optical system  Colour camera with zoom lens and monitor for positioning 
 Oscilloscope Digital TFT oscilloscope for real-time signal 
 Test sample  Gold, aluminum and silver test samples
 Faraday enclosure base  450 x 450 mm
 


상품정보에 배송/교환/반품 및 취소와 관련된 안내가 별도 기재된 경우 ,아래의 내용보다 우선하여 적용됩니다.
판매자정보
상호명
(주)프로브스
대표자
김용균
사업자등록번호
215-87-50331
통신판매업번호
제2017-서울송파-1811호
대표전화
070-7836-5319
팩스전화
02-6280-5319
이메일
114@probes.co.kr
개인정보취급책임자
담당자  호스팅업체: 원데이넷
사업장소재지
서울특별시 송파구 송파대로 201, 테라타워2, B동 312호
배송/반품/취소/교환안내
지정택배사
기본배송비
배송비 5,000원 (100,000원 이상 무료배송)
평균배송기간
배송등록 후 2-3일
반송주소
서울특별시 송파구 송파대로 201, 테라타워2, B동 312호
교환/반품/환불이 가능한 경우
  • 제품 하자의 경우 전화로 해당 건에 대해 설명과 함께 하자에 대한 내용을 메일로 사진과 함께 남겨주십시오.
  • 제품 하자 이외 단순 변심에 의한 교환/반품은 불가합니다.
  • 제품 수령 후 제품의 이상 유무를 7일 이내 확인해 주십시오.
교환/반품/환불이 가능한 경우
  • 반품/교환 요청기간이 지난 경우
  • 구매자의 책임 있는 사유로 상품 등이 멸실 또는 훼손된 경우 (단, 상품의 내용을 확인하기 위하여 포장 등을 훼손한 경우는 제외)
  • 구매자의 사용 또는 일부 소비에 의하여 상품의 가치가 현저히 감소한 경우
  • 오랜 시간의 경과로 제품의 이상 유무를 확인하기 어려운 경우

등록된 내용이 없습니다.
고객센터
070-7836-5319 09:00 ~ 18:00 주말 및 공휴일은 휴무입니다. 입금계좌[신한]100-026-990614
(주)프로브스