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ACTG
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ACTG
Gold Coated Tapping Mode AFM Probe
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AFM/SPM PROBE

(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)



  Product Description

ACT Series

  • Short and stiff cantilever with high resonance frequency for high-speed scanning of hard samples in Tapping™/Non-contact modes
  • Available with a different tip and cantilever options for a variety of applications

It is compatible with:

- AFMWORKSHOP

- APEReaserch

- Bruker

- HITACHI

- Keysight

- Oxford

- Park Systems

- Probes Inc.

- etc.

 
  Coating Description
Gold reflex coating on detector side of the cantilever
 
  AFM Tip
Shape   Tetrahedral  
Height   15um (14-16um)  
Radius   <6nm  
Material   Silicon
       
  AFM Cantilever
Shape   Rectangular  
Length   125um  
Width   30um  
Thickness   4um  
Force Constant   37N/m  
Resonance Frequency   300kHz  
       
  Custom Mounted Probe Option
We can supply pre-mounted probes for most major AFM systems for a small fee.
       


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상호명
(주)프로브스
대표자
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통신판매업번호
제2017-서울송파-1811호
대표전화
070-7836-5319
팩스전화
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