AFM/SPM PROBE
PR-L300
(Visullized Long Tip 프로모션 제품 / 마운팅 옵션 가능)
Product Description | |||
---|---|---|---|
L프로브는 새로운 MEMS 특허 기술을 기반으로 90년대에 개발된 주류 공정을 사용하여 팁을 제작한 실리콘 AFM 캔틸레버와 비교하여 개선할 수 있습니다. Vmicro In-plane 기술은 정점에 가까울 뿐만 아니라 높은 길이, 낮은 질량 및 높은 종횡비로 팁을 완전히 일괄 제작할 수 있습니다. 캔틸레버와 팁은 모두 고도로 도핑된 단결정 실리콘으로 만들어졌습니다. 저희 칩은 핀셋으로 더 안전한 처리를 가능하게 하는 수직 측벽으로 설계되었습니다. L프로브는 대부분의 SPM과 호환됩니다.
The tetrahedral tip of Lprobes keeps the same aspect ratio from the apex to the cantilever. The angle between the tip and the cantilever is designed to compensate the chip holder angle. The tip is quasi-vertical above the surface. The tip apex is easily located from the camera top view is most AFMs. - 사용가능 AFM/SPM 장비: AFMWorkShop A.P.E.Research Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI Hitachi / Seiko Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI NanoFocus NanoInk Oxford / Asylum Park Systems / PSIA Probes 등. 모든 상용화 장비
|
|||
Coating Description | |||
- Al (알루미늄) 30nm 두께 반사면 코팅 |
|||
AFM Tip | |||
Tip Angle | 15° | ||
Height | 30um | ||
Radius | < 8nm | ||
AFM Cantilever | |||
Shape | Beam | ||
Length | 115um | ||
Width | 40um | ||
Thickness | 3.3um | ||
Force Constant | 40N/m (27-55N/m) | ||
Resonance Frequency | 300kHz (200-350kHz) | ||