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PR-C13
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PR-C13
Standard Contact Mode AFM Probe
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AFM/SPM PROBE

(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)



  Product Description

가장 일반적인 Contact mode, Lateral Force Microscope 모드에 사용되는 Standard 프로브

실리콘 단결정 재질에 반사면 Al Coating으로 레이저 반사효율이 좋음

프로브 칩에 Groove가 있어 Alignment Chip과 함께 사용가능

장비 제작사별 마운팅 옵션 선택가능

사용가능 AFM/SPM 장비:

  AFMWorkShop

  A.P.E.Research

  Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI

  Em4sys

  Hitachi / Seiko

  Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI

  NanoFocus

  NanoInk

  Oxford / Asylum

  Park Systems / PSIA

  Probes

  등. 모든 상용화 장비

 

 
  Coating Description

-  Al (알루미늄) 30nm 두께 반사면 코팅

 
  AFM Tip
Shape   Rotated  
Height   17um (15-19um)  
Setback   15um (10-20um)  
Radius   < 7~10nm  
Half Cone Angle   20°-25° front view, 25°-30° from side, 10° at the apex 
       
  AFM Cantilever
Shape   Beam  
Length   450um (440-460um)  
Width   50um (45-55um)  
Thickness   2um (1-3um)  
Force Constant   0.2N/m (0.07-0.4N/m)  
Resonance Frequency   13kHz (9-17kHz)  
       


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