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qp-CONT
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qp-CONT
uniqprobe™ - uniform quality SPM probe for contact mode
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AFM/SPM PROBE

(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)



  Product Description

The NANOSENSORS uniqprobe combines the well-known features of the other NANOSENSORS AFM probe series such as high application versatility and compatibility with most commercial SPMs with the additional advantage of a strongly reduced dispersion of force constant and resonance frequency.

The unsurpassed uniformity of the mechanical characteristics of the uniqprobe series is particularly important for applications, where a large number of probes with known and near identical force constants or resonance frequencies are needed. The sensors of the uniqprobe series are especially adapted for molecular biology, biophysics and quantitative nano-mechanical studies.

NANOSENORS qp-CONT AFM probes are designed for contact mode AFM imaging in air or liquid environments. The SCONT type features a very low force constant offering the possibility of contact mode measurements on soft biological materials with high sensitivity.

The probe offers unique features:

small dispersion of force constant and resonance frequency

typical tip height 7µm

typical tip radius of curvature smaller than 10nm

stress free cantilevers with considerably less bending

tip and cantilevers are made of a quartz-like material

reduced drift for applications in liquid environments

tip repositioning accuracy of better than ± 8 µm (in combination with Alignment Chip)

chemically inert

It is compatible with:

Bruker / Veeco / Digital Instruments

Keysight / Agilent / Molecular Imaging

Asylum Research

Park Systems

JEOL

JPK

etc.

 
  Coating Description
A chromium/gold layer of about 60nm is partially coating the cantilever on the detector side near its free end where the tip is situated. The main advantages of this partial metallic coating are considerably less cantilever bending and reduced drift for SPM measurements in liquid environments.
  AFM Tip
Shape   Circular symmetric  
Height   7um (5.5-8.5um)  
Radius      
       
  AFM Cantilever
Shape   Beam  
Length   125um (120-130um)  
Width   35um (33-37um)  
Thickness   750nm (720-780nm)  
Force Constant   0.1N/m (0.08-0.15N/m)  
Resonance Frequency   30kHz (26-34kHz)  
       


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