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PR-T300-100
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PR-T300-100
Standard Tapping Mode AFM Probe
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10월 이벤트 행사 상품

PR-T300 (수량 100개)

넌컨택 모드용 원자현미경 프로브



  Product Description

Monolithic silicon AFM probe for high frequency non-contact and tapping mode operation.

The rotated tip allows for more symmetric representation of high sample features.

The consistent tip radius ensures good resolution and reproducibility.

The AFM holder chip fits most commercial AFM systems as it is industry standard size.

It is compatible with:

Bruker / Veeco / Digital Instruments

Keysight / Agilent / Molecular Imaging

Asylum Research

Park Systems

JEOL

JPK

etc.

 
  Coating Description
Aluminum reflex coating on detector side of the cantilever, 30 nm thick
 
  AFM Tip
Shape   Rotated  
Height   17um (15-19um)  
Radius   <10nm  
Half Cone Angle   20°-25° front view, 25°-30° from side, 10° at the apex 
       
  AFM Cantilever
Shape   Beam  
Length   125um (115-135um)  
Width   30um (25-35um)  
Thickness   4um (3-5um)  
Force Constant   40N/m (20-75N/m)  
Resonance Frequency   300kHz (200-400kHz)  
       


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상호명
(주)프로브스
대표자
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사업자등록번호
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