메뉴전체보기
메뉴전체보기 닫기
견적문의 게시판좌측배너
History
찾아 본
상품이
없습니다.

All-In-One-DD
페이스북 트위터 이메일
상품평점(총 0건) 0 상품평 더보기
All-In-One-DD
Diamond Coated, Conductive AFM Probe with 4 Different Cantilevers
총 결제금액
(부가세포함)
0
이 상품을 장바구니에 담았습니다.
지금 장바구니를 확인하시겠습니까?

>

(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)



  Product Description

Versatile monolithic silicon AFM probe with 4 different cantilevers on a single AFM holder chip for various applications: nanoindentation, nanolithography and electric modes such as:

scanning capacitance microscopy (SCM)

electrostatic force microscopy (EFM)

Kelvin probe force microscopy (KFM)

conductive atomic force microscopy (C-AFM).

The short cantilever end is marked by a trapezoidal pattern visible with bare eyes.

The doped polycristalline diamond tip coating provides unprecedented hardness and durability, as well as electridcal conductivity for demanding electrical applications. The resulting tip radius is in the range 100-300nm.

The rotated tips allow for more symmetric representation of high sample features.

The AFM holder chip fits most commercial AFM systems as it is industry standard size. It is compatible with: Bruker / Veeco / Digital Instruments, Keysight / Agilent / Molecular Imaging, Asylum Research, Park Systems, JEOL, etc.

The main advantage of this product compared to regular, single-cantilever AFM probes is the freedom to choose the right cantilever for each application in the very last moment. You do not need to stock various AFM probe types any more. Nevertheless, this product is not meant as a substitution to comparable single-cantilever AFM probes, because the geometry of each one of the All-In-One cantilevers differs from the geometry of the comparable specialized single-cantilever AFM probes.

Please note that the aluminum back side coating is not suitable for measurements in liquids!

Consistent high quality at a lower price!

It is compatible with:

Bruker / Veeco / Digital Instruments

Keysight / Agilent / Molecular Imaging

Asylum Research

Park Systems

JEOL

JPK

etc.

 
  Coating Description
Boron doped polycrystalline diamond tip coating, 100 nm thick; Aluminum coating on detector side of the cantilever, 30 nm thick.
 
  AFM Tip
Shape   Rotated    
Height   17um (15-19um)    
Setback   15um (10-20um)    
Half Cone Angle   20°-25° front view, 25°-30° from side, 10° at the apex   
         
  AFM Cantilever
  Cantilever A Cantilever B Cantilever C Cantilever D
Shape Beam  Beam Beam Beam 
Length 500um (490-510um) 210um (200-220um) 150um (140-160um) 100um (90-110um)
Width 30um (25-35um) 30um (25-35um) 30um (25-35um) 50um (45-55um)
Thickness 2.7um (1.7-3.7um) 2.7um (1.7-3.7um) 2.7um (1.7-3.7um) 2.7um (1.7-3.7um)
Force Constant 0.2N/m (0.04-0.7N/m) 2.7N/m (0.4-10N/m) 7.4N/m (1-29N/m) 420/m (7-160N/m) 
Resonance Frequency 15kHz (10-20kHz) 80kHz (50-110kHz) 150kHz (70-230kHz) 350kHz (200-500kHz) 
         


상품정보에 배송/교환/반품 및 취소와 관련된 안내가 별도 기재된 경우 ,아래의 내용보다 우선하여 적용됩니다.
판매자정보
상호명
(주)프로브스
대표자
김용균
사업자등록번호
215-87-50331
통신판매업번호
제2017-서울송파-1811호
대표전화
070-7836-5319
팩스전화
02-6280-5319
이메일
  이메일: probes.ykkim@gmail.com
개인정보취급책임자
김용균,  호스팅업체: 원데이넷,
사업장소재지
서울특별시 송파구 법원로 90, 파트너스 2, 503호
배송/반품/취소/교환안내
지정택배사
기본배송비
배송비 5,000원 (100,000원 이상 무료배송)
평균배송기간
배송등록 후 2-3일
반송주소
서울특별시 송파구 법원로 90, 503호(문정동 파트너스2)
교환/반품/환불이 가능한 경우
  • 제품 하자의 경우 전화로 해당 건에 대해 설명과 함께 하자에 대한 내용을 메일로 사진과 함께 남겨주십시오.
  • 제품 하자 이외 단순 변심에 의한 교환/반품은 불가합니다.
  • 제품 수령 후 제품의 이상 유무를 7일 이내 확인해 주십시오.
교환/반품/환불이 가능한 경우
  • 반품/교환 요청기간이 지난 경우
  • 구매자의 책임 있는 사유로 상품 등이 멸실 또는 훼손된 경우 (단, 상품의 내용을 확인하기 위하여 포장 등을 훼손한 경우는 제외)
  • 구매자의 사용 또는 일부 소비에 의하여 상품의 가치가 현저히 감소한 경우
  • 오랜 시간의 경과로 제품의 이상 유무를 확인하기 어려운 경우

고객센터
070-7836-5319 09:00 ~ 18:00 주말 및 공휴일은 휴무입니다. Email : probes.ykkim@gmail.com 입금계좌[신한은행]전화문의 후 번호확인
(주)프로브스