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ATEC-EFM
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ATEC-EFM
Electrical, Force Modulation AFM Probe with REAL Tip Visibility
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AFM/SPM PROBE

(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)



  Product Description

NANOSENSORS AdvancedTEC™ EFM AFM tips are designed for force modulation mode imaging.

They feature a tetrahedral tip that protrudes from the very end of the cantilever.

This unique feature allows precise positioning and makes the AdvancedTEC™ the only AFM scanning probe in the world that offers REAL TIP VISIBILITY FROM TOP, even when the probe is tilted due to its mounting onto the AFM head. This feature makes them the premium choice for all applications where the tip has to be placed exactly on the point of interest and/or has to be visible (e.g. Nanomanipulation).

Due to their very small half cone angles the tips of the AdvancedTEC™ Series show great performance on samples that have a small pattern size combined with steep sample features.

The probe offers unique features:

REAL TIP VISIBILITY FROM TOP

metallic conductivity of the tip

high mechanical Q-factor for high sensitivity

aspect ratio of the last 1.5 µm of the tip > 4:1 (from front and side)

tip shape is defined by real crystal planes resulting in highly reproducible geometries and extremely smooth surfaces

highly doped single crystal silicon (0.01-0.025 Ohm*cm)

rectangular cantilever with trapezoidal cross section

holder dimensions are 1.6 mm x 3.4 mm

It is compatible with:

Bruker / Veeco / Digital Instruments

Keysight / Agilent / Molecular Imaging

Asylum Research

Park Systems

JEOL

JPK

etc.

 
  Coating Description
The PtIr5 coating is an approximately 25 nm thick double layer of chromium and platinum iridium5 on both sides of the cantilever. The tip side coating enhances the conductivity of the tip and allows electrical contacts. The detector side coating enhances the reflectivity of the laser beam by a factor of about 2 and prevents light from interfering within the cantilever. The coating process is optimized for stress compensation and wear resistance. The bending of the cantilever due to stress is less than 3.5% of the cantilever length.
 
  AFM Tip
Shape   Visible  
Height   15-20um  
Radius   <20nm  
       
  AFM Cantilever
Shape   Beam  
Length   240um (230-250um)  
Width   35um (30-40um)  
Thickness   3um (2-4um)  
Force Constant   2.8/m (0.7-9N/m)  
Resonance Frequency   85kHz (50-130kHz)  
       


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