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SSS-NCLRSSS-NCLR
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SSS-NCLR
SuperSharp, Tapping Mode AFM Probe with Long Cantilever
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AFM/SPM PROBE

(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)




  Product Description

NANOSENSORS™ SSS-NCLR probes are designed for non-contact mode or tapping mode AFM. They are offered as an alternative to the NANOSENSORS™ high frequency non contact type (NCH). The SSS-NCLR is recommended if the feedback loop of the microscope does not accept high frequencies (400 kHz) or if the detection system needs a minimum cantilever length > 125 µm. Compared to the high frequency non-contact type NCH the maximum scanning speed is slightly reduced. This AFM probe combines high operation stability with outstanding sensitivity and fast scanning ability.

For enhanced resolution of nanostructures and microroughness we offer our SuperSharpSilicon™ tip with unrivalled sharpness.

The probe offers unique features:

excellent tip radius of curvature

typical aspect ratio at 200 nm from tip apex in the order of 4:1

highly doped silicon to dissipate static charge

high mechanical Q-factor for high sensitivity

precise alignment of the cantilever position (within +/- 2 µm) when used with the Alignment Chip

compatible with PointProbe® Plus XY-Alignment Series

사용가능 AFM/SPM 장비:

  AFMWorkShop

  A.P.E.Research

  Bruker / J.P.K / S.I.S-GmbH / Veeco / DI

  Hitachi / Seiko

  Keysight / Agilent / Pacific NanoTechnology / MI

  NanoFocus

  NanoInk

  Oxford / Asylum

  Park Systems / PSIA

  Probes

  등. 모든 상용화 장비

 

 
  Coating Description

-  Al (알루미늄) 30nm 두께 반사면 코팅

 
  AFM Tip
Shape   Supersharp  
Radius   < 2nm  
Half Cone Angle   < 10° at 200nm from apex  
       
  AFM Cantilever
Shape   Beam  
Length   225um (125-235um)  
Width   38um (30-45um)  
Thickness   7um (6-8um)  
Force Constant   48N/m (21-98N/m)  
Resonance Frequency   190kHz (146-236kHz)  
       


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