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FORTG
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FORTG
Gold Coated Force Modulation AFM Probe
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AFM/SPM PROBE

(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)



  Product Description

FORTA Series

  • Features medium spring constant and frequency cantilevers for force modulation mode
  • FORT probes are specially designed for this mode
  • A variety of tip and cantilever options available for different microscopy applications

It is compatible with:

- AFMWORKSHOP

- APEReaserch

- Bruker

- HITACHI

- Keysight

- Oxford

- Park Systems

- Probes Inc.

- etc.

 
  Coating Description
Gold reflex coating on detector side of the cantilever
 
  AFM Tip
Shape   Tetrahedral  
Height   15um (14-16um)  
Radius   <6nm  
Material   Silicon
       
  AFM Cantilever
Shape   Rectangular  
Length   225um  
Width   27um  
Thickness   2.7um  
Force Constant   1.6N/m  
Resonance Frequency   61kHz  
       
  Custom Mounted Probe Option
We can supply pre-mounted probes for most major AFM systems for a small fee.
       


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상호명
(주)프로브스
대표자
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사업자등록번호
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통신판매업번호
제2017-서울송파-1811호
대표전화
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팩스전화
02-6280-5319
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