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qp-BioAC-Cl
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qp-BioAC-Cl
uniqprobe™ BioAC with Rounded Tips for Cell Imaging
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AFM/SPM PROBE

(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)



  Product Description

NANOSENORS qp-BioAC-CI AFM probes are based on NANOSENORS qp-BioAC probes.For the qp-BioAC-CIM type the AFM tips have been rounded to a nominal tip radius of 30 nm for Cell Imaging applications. This probe is dedicated to measurements on soft and life science samples only.These probes feature three different rectangular cantilevers on one side of the support chip.The uniqprobe BioAC cantilevers unite fairly high resonance frequencies with low force constants.The reflex gold coating deposited on the detector side of the cantilever covers only the free end above where the tip is located. Main advantages of the uniqprobe coating are considerably less cantilever bending and reduced drift particularly for measurements in liquid environments.The NANOSENSORS uniqprobe combines the well-known features of the other NANOSENSORS AFM probe series such as high application versatility and compatibility with most commercial SPMs with the additional advantage of a strongly reduced dispersion of force constant and resonance frequency.The unsurpassed uniformity of the mechanical characteristics of the uniqprobe series is particularly important for applications, where a large number of probes with known and near identical force constants or resonance frequencies are needed. The AFM probes of the uniqprobe series are especially adapted for molecular biology, biophysics and quantitative nano-mechanical studies.

The probe offers unique features:

typical tip radius of curvature about 30nm

typical tip height 7µmstress free cantilevers with considerably less bending

reduced drift for applications in liquid environments

small dispersion of force constant and resonance frequency

tip and cantilevers are made of a quartz-like material

alignment grooves on backside of silicon holder chip

tip repositioning accuracy of better than ± 8 µm (in combination with Alignment Chip)

chemically inert

It is compatible with:

Bruker / Veeco / Digital Instruments

Keysight / Agilent / Molecular Imaging

Asylum Research

Park Systems

JEOL

JPK

etc.

 
  Coating Description
A chromium/gold layer of about 60nm is partially coating the cantilever on the detector side near its free end where the tip is situated. The main advantages of this partial metallic coating are considerably less cantilever bending and reduced drift for SPM measurements in liquid environments.
 
  AFM Tip
Shape   Circular symmetric  
Height   7um (5.5-8.5um)  
Radius   <30nm  
       
  AFM Cantilever
  Cantilever 1 Cantilever 2 Cantilever 3
Shape  Beam Beam  Beam
Length  40um (35-45um) 60um (55-65um) 80um (75-85um)
Width 20um (18-22um) 25um (23-27um) 30um (28-32um)
Thickness 400nm (370-430nm) 400nm (370-430nm) 400nm (370-430nm)
Force Constant 0.3N/m (0.15-0.55N/m) 0.1N/m (0.06-0.18N/m) 0.06N/m (0.03-0.09N/m) 
Resonance Frequency 90kHz (65-115kHz)  50kHz (35-65kHz) 30kHz (24-36kHz) 
       


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