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PPP-XYCONTR
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PPP-XYCONTR
Contact Mode AFM Probe with Special Alignment System
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AFM/SPM PROBE

(원자현미경/주사탐침현미경 탐침)



  Product Description

The XY-auto-alignment probes for Contact mode application with a Reflex coating extend the plug-and-fit alignment concept of the Alignment Chip (ALIGN) to 450 µm long cantilevers optimized for contact mode applications. Probe exchange with a tip repositioning accuracy of better than ± 8µm is possible for all probes of the XY-alignment probes series – independent of their cantilever length. This series is adjusted to the tip position of probes with a cantilever length of 225µm.As a matter of course, the features of the proven PointProbe® Plus series such as high application versatility, compatibility with most commercial SPMs, extremely low and reproducible tip radius as well as a precisely defined tip shape are maintained. The excellent tip radius and the minimized variation in tip shape provide more reproducible images and enhanced resolution.

NANOSENSORS™ PPP-CONTR AFM probes are designed for contact mode (repulsive mode) AFM imaging. This sensor can also be used for force-distance spectroscopy mode or pulsed force mode (PFM). The CONT type is optimized for high sensitivity due to a low force constant.

The probe offers unique features:

excellent tip radius of curvature

highly doped silicon to dissipate static charge

Al coating on detector side of cantilever

chemically inert

high mechanical Q-factor for high sensitivity

tip repositioning accuracy of better than ± 8 µm (in combination with Alignment Chip)

It is compatible with:

Bruker / Veeco / Digital Instruments

Keysight / Agilent / Molecular Imaging

Asylum Research

Park Systems

JEOL

JPK

etc.

 
  Coating Description
The reflex coating is an approximately 30 nm thick aluminum coating on the detector side of the cantilever which enhances the reflectivity of the laser beam by a factor of about 2.5. Furthermore it prevents light from interfering within the cantilever. The virtually stress-free coating is bending the cantilever less than 3.5% of the cantilever length.
 
  AFM Tip
Shape   Standard  
Height   12um (10-15um)  
Radius      
       
  AFM Cantilever
Shape   Beam  
Length   450um (440-460um)  
Width   50um (42.5-57.5um)  
Thickness   2um (1-3um)  
Force Constant   0.2N/m (0.02-0.77N/m)  
Resonance Frequency   13kHz (6-21kHz)  
       


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