원자현미경 AFM SPM SThM Standard Sample Metal Disk Mica HOPG 중고원자현미경

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전자현미경 Table Top SEM Normal SEM Big Chamber SEM

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에너지레벨 측정 Single Point Kelvin Probe Scanning Kelvin Probe Ambient UPS Surface Photovoltage UHV Kelvin Probe UHV Scanning Kelvin Probe Scanning Sruface Potential Microscope

인덴터팁 Nano Indenter Tip Fused Silica Aluminum Sample Crystal Bond Sample Puck Heating Stage

멤브레인 센서 Sensor Module Sensors

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기타연구장비 Raman Microscope Soft Lithography System SEEC System Anti Vibration System Optical Microscope

나노소재 Elements & Alloys Single Oxides Multi Oxides Compounds

웨이퍼/타겟류 ITO Glass Silicon Wafer GaAs Wafer Single Crystal SOI Wafer Glass & Substrate Ceramic Substrate Sputtering Targets Evaporation Materials

시편보관 케이스 Sample Case